Streak-Kamera-System

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie ; Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2017
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 361886954

Das zu beschaffende Gerät soll spektroskopische Messungen an einer Vielzahl von Materialsystemen ermöglichen. Insbesondere soll das System dazu dienen, optoelektronische Eigenschaften, d.h. insbesondere Ladungsträgerlebensdauern, von klassischen III-V Halbleitern, verdünnten Nitriden, Materialien für die Photoelektrokatalyse und nanostrukturierten III-V Halbleitern zu vermessen. Des Weiteren wird angestrebt, das Streak-Kamera-System mit dem vorhandenen 4-Spitzen- Rastertunnelmikroskop zu kombinieren, um so einen einzigartigen experimentellen Zugang zu den optoelektronischen Eigenschaften von nanostrukturierten Halbleitern, insbesondere III-V Halbleitern zu schaffen. Aufgrund der kurzen Ladungsträgerlebensdauer ist für die Weiterentwicklung der neuen Materialien die Vermessung mit dem hier beantragten Streak-Kamera-System, das Photolumineszenzsignale im Bereich bis hinunter zu 1 ps detektieren kann, notwendig. Als Anregungsquelle wird, um alle genannten Materialsysteme adressieren zu können, ein durchstimmbarer Laser vorgesehen, der einen großen Teil des sichtbaren und nahen infraroten Spektralbereichs abdeckt. Die Streak- Kamera wird ebenfalls für optimale Empfindlichkeit im sichtbaren wie auch nahen infraroten Spektralbereich konfiguriert.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Streak-Kamera-System
• Gerätegruppe: 5170 Elektronenoptische Bildwandlergeräte und Bildverstärker (außer Fernsehanlagen 673)
• Antragstellende Institution: Technische Universität Ilmenau
• Leiter: Professor Dr. Thomas Hannappel