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Erweiterung der SEM (Singularity Expansion Method) für dünne Drahtstrukturen 2

Fachliche Zuordnung Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung Förderung von 2017 bis 2023
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 392440557
 
Das Hauptziel des Forschungsprojektes ist die analytische Untersuchung der Ströme auf verdrillten Leitungen im Frequenzbereich, um das Verständnis des elektromagnetischen Verhaltens dieser Leitungen zu verbessern. Dazu werden ein asymptotischer Ansatz und eine iterative Methode, welche für gleichförmige Leitungen entwickelt wurden, für verdrillte Leitungen erweitert. Auf diese Weise werden Hochfrequenzeffekte bei der analytischen Lösung mit beachtet.Die Ergebnisse werden verwendet, um unter anderem die komplexen Resonanzfrequenzen verdrillter Leitungen mit denen äquivalenter gleichförmiger Leitungen zu vergleichen.
DFG-Verfahren Sachbeihilfen
 
 

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