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Korrelationsbasierte Systemanalyse und Hintergrund-Korrektur für Sigma-Delta Analog-Digital Umsetzer durch Nutzung optimaler Testsignale
Antragsteller
Professor Dr.-Ing. Maurits Ortmanns
Fachliche Zuordnung
Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung
Förderung von 2007 bis 2011
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 40403750
Erstellungsjahr
2011
Zusammenfassung der Projektergebnisse
Keine Zusammenfassung vorhanden
Projektbezogene Publikationen (Auswahl)
- “A background DAC error estimation in Sigma-Delta ADCs using a pseudo random noise based correlation technique,” in IEEE Int. Symp. on Circuits Syst. (ISCAS), 2009, pp. 1549–1552
P. Witte and M. Ortmanns
- “A pseudo random noise based correlation technique for background DAC error estimation in Σ∆ ADCs,” in 11. Workshop Analogschaltungen, Hannover, Deutschland 2009
P. Witte, and M. Ortmanns
- Hardware complexity of a correlation based background DAC error estimation technique for Sigma-Delta ADCs,” in IEEE Int. Symp. on Circuits Syst. (ISCAS), 2010, pp. 2167–2170
P. Witte, C. Noeske, and M. Ortmanns
- “Background DAC error estimation using a pseudo random noise based correlation technique for Sigma-Delta Analog-to-Digital,” IEEEE Trans. Circuits Syst. I, Reg. Papers, vol. 57 no. 7, pp. 1500–1512, 2010
P. Witte and M. Ortmanns
- “Practical considerations and hardware complexity of a background DAC error estimation for Sigma-Delta ADCs,” in 11. ITG/GMM-Fachtagung Analog, Erfurt, Deutschland, 2010
P. Witte, C. Noeske, and M. Ortmanns
- “A 8mW, 50MS/s CT ∆Σ modulator with w 81dB SFDR and digital background DAC linearization,” in IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), 2011
J. Kauffman, P. Witte, J. Becker, and M. Ortmanns
- “A digital background correction for DAC nonlinearities in lowpass and bandpass Delta-Sigma modulators - Theory and Implementation,” in The 9th International Conference on Sampling Theory and Applications (SAMPTA), 2011
P. Witte, J. Kauffman, J. Becker, and M. Ortmanns