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Projekt
Combined / Integrated Optical Tweezers and Atomic Force Microscope System
Fachliche Zuordnung
Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
Förderung
Förderung in 2019
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 417915721
In diesem Antrag wird ein spezialisiertes und maßgeschneidertes Instrument beantragt, das aus einer Kombination eines Rasterkraftmikroskops (AFM) und eines Doppelstrahl-Optical-Tweezers (OT) -Systems besteht, das als OT-AFM-Combo-System bezeichnet wird. Der Grundgedanke des Antrags für dieses Instrument betrifft den Aufbau einer integrierten Plattform zur simultanen oder sequentiellen Einzelmolekül- / Objektmanipulation und Einzelmolekülanalyse mit hochpräziser chemischer und physikalischer Oberflächencharakterisierung. Dies ermöglicht die Durchführung innovativer Experimente, die das grundlegende Verständnis intermolekularer Wechselwirkungen an Fest-Flüssig-Grenzflächen verbessern. Das OT-AFM-Combo-System ist notwendig, um Fest-Flüssig-Grenzflächen im Detail auf einer mesoskopischen Ebene zusammen mit Einzelobjektmanipulationen zu untersuchen. Darüber hinaus ist das System notwendig, um eine lokale chemische Funktionalisierung (unter Verwendung des OT-Teils) und eine bevorstehende Oberflächenanalyse (unter Verwendung des AFM-Teils) durchzuführen, um direkt die Rolle der lokalen Struktur bei der Effizienz der chemischen Funktionalisierung zu verstehen. Der Effekt der Funktionalisierung auf die chemischen und physikalischen Eigenschaften der lokalen Oberfläche kann auf diese Weise entschlüsselt werden. Es ist wichtig, dass die Ausrüstung so installiert wird, dass Vibrationen minimiert werden und dass die größtmögliche Flexibilität für die Anbindung externer Geräte und für zukünftige Erweiterungen / Upgrades gegeben ist.
DFG-Verfahren
Forschungsgroßgeräte
Großgeräte
Combined / Integrated Optical Tweezers and Atomic Force Microscope System
Gerätegruppe
5091 Rasterkraft-Mikroskope
Antragstellende Institution
Humboldt-Universität zu Berlin
