Raster-Nahfeldmikroskop für hochauflösende statische und dynamische magnetische Mikroskopie

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2019
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 432592881

Wir planen den Aufbau eines hochauflösenden magnetischen Mikroskopes für die Detektion statischer und dynamischer Eigenschaften von magnetischen Nano-Elementen. Das Herzstück des geplanten Systems ist ein rasterndes aperturloses Nahfeldmikroskop (scattering SNOM) das wir so modifizieren werden, dass die Detektion spitzenverstärkter Brillouin-Streuung möglich wird. Wir gehen davon aus, dass wir im statischen und dynamischen Betrieb eine Ortsauflösung von unter 50 nm erreichen werden. Die Detektionseinheit – ein Tandem Fabry Perot Interferometer – soll auch in einem benachbarten Aufbau verwendet werden. Dieser kombinierte Mikroskopieaufbau aus einem bereits vorhandenem zeitaufgelösten Kerr Mikroskop und einem neu aufzubauendem Brillouin Lichtstreumikroskop soll bei tiefen Temperaturen bis 4 K und bei hohen Frequenzen bis zu 67 GHz arbeiten.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Raster-Nahfeldmikroskop für hochauflösende statische und dynamische magnetische Mikroskopie
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Technische Universität München (TUM)
• Leiter: Professor Dr. Christian Back