Vorwissensbasierte Analyse atomar aufgelöster Bilddaten (A04)

• Fachliche Zuordnung: Computergestütztes Werkstoffdesign und Simulation von Werkstoffverhalten von atomistischer bis mikroskopischer Skala
• Förderung: Förderung seit 2020
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 409476157

Ziel des Projekts ist die Entwicklung und Implementierung neuer Methoden zur automatischen Kristalldefekt-Analyse atomar aufgelöster Bilddaten. Hierzu werden wir Methoden zur automatischen Erkennung von Strukturen/Mustern in 2D-Atomgittern entwickeln. Zusätzlich werden wir Verfahren für automatisches Bump-Fitting, d.h. zur Lokalisierung von Atomen in Bilddaten, entwerfen. Zusammen werden wir diese als Basis für einen quantitativen Vergleich entsprechender Strukturen in experimentellen und simulierten Daten nutzen. Die entwickelten Bildanalysealgorithmen werden dockerisiert und so dem gesamten SFB zugänglich gemacht.

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 1394: Strukturelle und chemische atomare Komplexität – Von Defekt-Phasendiagrammen zu Materialeigenschaften
• Antragstellende Institution: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
• Teilprojektleiter: Professor Dr. Benjamin Berkels