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Projekt
Flugzeitsekundärionenmassenspektrometer (ToF-SIMS)
Fachliche Zuordnung
Produktionstechnik
Förderung
Förderung in 2021
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 458688785
Die Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) ist eine Oberflächenanalysemethode, welche die strukturelle Zusammensetzung unterschiedlichster Werkstoffe ortsaufgelöst und mit hoher lateraler und hoher Tiefenauflösung liefert. Mit diesem Verfahren kann sowohl die lokale Zusammensetzung der obersten Monolagen eines Werkstoffes wie beispielsweise eines Kunststoffs erfasst als auch eine Tiefenprofilanalyse durchgeführt werden. Unter Einsatz dieser Methode werden viele Forschungsfragen aus der Grundlagenforschung zugänglich, welche bislang nur auf theor. Basis abgeschätzt werden konnten. Exemplarisch sind ortsaufgelöste Analyse von plasmabasierten Dünnschichten, die Darstellung von Alterungsvorgängen, Migrationsfragestellungen von Zusätzen wie Antioxidantien sowie die Charakterisierung von Kontaminationen und die Anreicherung von Stabilisatoren in rezyklierten Kunststoffen zu nennen. Die mit der ToF-SIMS gegebene Möglichkeit, durch begleitende Sputterprozesse Tiefenprofile oberflächennaher Bereiche zu analysieren, schließt die chemische Analyse von Grenzflächen mit ein, welche bislang nicht erreichbar waren. Die als Erweiterung beantragte „Hybrid-SIMS“ erlaubt zudem die Identifikation und Zuordnung unbekannter Substanzen, was zur Identifikation von Kontaminationen essentiell ist. Dies gewinnt insbesondere zur Analyse von Kunststoffen aus Rezyklierprozessen rapide an Bedeutung.
DFG-Verfahren
Forschungsgroßgeräte
Großgeräte
Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie ToF-SIMS
Gerätegruppe
1720 Spezielle Massenspektrometer (Flugzeit-, Cyclotronresonanz-, Ionensonden, SIMS, außer 306)
Antragstellende Institution
Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
