Strukturorientierte Analyse und Modellierung der Mikrotopographie technischer Oberflächen zur Prozessbeschreibung und -analyse (SAMMTOP)

• Antragsteller: Professor Dr.-Ing. Jörg Seewig
• Fachliche Zuordnung: Messsysteme
• Förderung: Förderung seit 2021
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 461839204

Obwohl Oberflächen typischerweise mithilfe einfacher standardisierter Rauheitskenngrößen (wie z.B. Ra oder Rz) bewertet werden, um einerseits Rückschlüsse auf den Zustand des Fertigungsprozesses zu ziehen und andererseits die Funktionseigenschaften vorauszusagen, sind diese nur bedingt für die Beschreibung von Funktionseigenschaften geeignet. Durch die Berechnungsvorschriften dieser Rauheitskenngrößen und dem einhergehenden Informationsverlust ist es nicht immer möglich, verschiedene Fertigungsprozesse zu vergleichen bzw. eine Interpretation ist häufig nur mit Vorwissen über einen gleichbleibenden, relativ stabilen Fertigungsprozess sinnvoll. Daher soll im beantragten Projekt ein alternativer Ansatz zur Beurteilung von Fertigungsprozessen entwickelt werden, der nicht auf Rauheitskenngrößen basiert. Hierbei wird für profilhafte Anwendungen erstmalig eine strukturorientierte Auswertung umfassend untersucht, um allgemeine Zusammenhänge zwischen Oberflächentopographie und dem Zustand des Fertigungsprozesses zu etablieren.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen
• Mitverantwortlich: Professor Dr.-Ing. Matthias Eifler