Rasterelektronenmikroskop mit Soft-X-Ray- und Ramanspektrometer

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2021
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 464867041

Die hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist an der RWTH Aachen eine unverzichtbare Methode zur umfassenden Charakterisierung von neuartigen Materialien im Hinblick auf Morphologie, chemische und kristallographische Mikrostruktur. Die an der RWTH Aachen bereits installierten Rasterelektronenmikroskope können allerdings den neuen Bedarf nach der Charakterisierung von Energiematerialen, insbesondere in Bezug auf das leichte Element Lithium, und auf Komposite aus organischen und anorganischen Materialien nicht abdecken. Daher wird im vorliegenden Antrag ein dem aktuellen Stand der Technik entsprechendes Feldemissions-REM beantragt, welches insbesondere mit einem Detektor für weiche Röntgenstrahlen und einem Raman Spektrometer ausgestattet ist.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Rasterelektronenmikroskop mit Soft-X-Ray- und Ramanspektrometer
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
• Leiter: Professor Dr. Ulrich Simon