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Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit integriertem Focused-Ion-Beam-System

Fachliche Zuordnung Materialwissenschaft
Förderung Förderung in 2007
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 46895318
 
Erstellungsjahr 2012

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