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Verfahren zur ausfallsicheren Verdrahtung von Signalnetzen in integrierten Schaltungen

Fachliche Zuordnung Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung Förderung von 2007 bis 2011
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 47305300
 
Durch die voranschreitende Reduktion von Strukturgrößen in integrierten Schaltkreisen sinkt die Ausbeute fehlerfreier Chips nach der Fertigung. Sind Leitungen unterbrochen oder sind unterschiedliche Netze kurzgeschlossen, kommt es bei Digitalschaltungen zu logischen Fehlern. Durch veränderte Herstellungsprozesse steigt der Anteil der Chips, deren Fehlfunktion auf eine Leitungsunterbrechung zurückzuführen ist, verglichen mit dem Anteil fehlerhafter Chips durch Kurzschlüsse. Bisherige verwendete Leitungstopologien in Form von Bäumen sind daher bezüglich der Ausbeute nicht mehr optimal. In diesem Projekt werden neue Algorithmen zur Erzeugung unterbrechungsresistenter Leitungstopologien erforscht. Der Ansatz besteht darin, Baumstrukturen durch zyklische Topologien zu ersetzen.
DFG-Verfahren Sachbeihilfen
 
 

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