Hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop (HR-REM)

• Fachliche Zuordnung: Materialwissenschaft
• Förderung: Förderung in 2007
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 50643038

"Am Lehrstuhl für Werkstoffkunde und Werkstoffmechanik, dem Christian-Doppler-Laboratorium unddem Staatlichen Materialprüfamt werden die Herstellungs-Mikrostruktur-Eigenschaftsbeziehungenmehrphasiger Hochleistungs-Strukturwerkstoffe (Fe-, Ni-, Ti- und AI-Basislegierungen) intensiverforscht. Dringend nötig für die Aufrechterhaltung einer international konkurrenzfähigen Forschungauf dem Gebiet der Analytik feinster Gefügestrukturen ist die Beschaffung eines hochauflösendenRasterelektronenmikroskops (HR-REM). Mit dem beantragten Gerät sollen wichtige Fortschritte aufden Gebieten der quantitativen Gefügeanalytik, der Bedeutung interner Grenzflächen für das lokaleDeformationsverhalten plastisch verformter Legierungen, der nanoskopischen Charakterisierung vonLegierungselementverteilungen und der experimentellen Schädigungs- und Bruchmechanik aufGefügeebene erzielt werden. Nur mit dem analytischen HR-REM wird es möglich sein, solcheAnalysen an eigenschaftsbestimmenden Strukturen im Nanometerbereich durchzuführen. Dietechnischen Besonderheiten des beantragten HR-REMs bilden die Grundlage, offenewissenschaftliche Fragen bei niedriglegierten Dualphasenstählen (Charakterisierung von Bainit,Gradienten im Verformungsfeld nahe an Phasengrenzen), bei TRIP-Stählen (kristallographischeOrientierung von Restaustenit, Größenschwelle für den TRIP-Effekt) und bei der Nickellegierung IN718 (Rolle der Legierungselementeverteilung für die intergranularen Interphasen-Mikrospannungen zubeantworten."

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Technische Universität München (TUM)
• Leiter: Professor Dr. Ewald Werner