Emissionsmessung von Objekten mit Richtcharakteristik in TEM-Wellenleitern

• Antragsteller: Professor Dr.-Ing. Heyno Garbe
• Fachliche Zuordnung: Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
• Förderung: Förderung von 1999 bis 2004
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5178920

TEM-Wellenleiter erzeugen ein elektromagnetisches Feld, welches einem Antennenfernfeld entspricht. Mit diesem eindeutig definierten Feldtyp werden Störfestigkeitsuntersuchungen durchgeführt. Da das Reziprozitätsgesetz gilt, kann, wie in diesem Antrag vorgeschlagen, der TEM-Wellenleiter ebenfalls zur Emissionsmessung eingesetzt werden. Das vom Prüfobjekt abgestrahlte Feld koppelt in den TEM-Mode ein und ist am Eingangsport des TEM-Wellenleiters meßbar. Für einen Modelldipol mit gleicher Strahlungsleistung wird daraus dessen elektromagnetisches Feld bestimmt. Das bisherige Verfahren hat 2 entscheidene Schwachstellen, die innerhalb dieses Forschungsprojektes behandelt werden sollen. Einerseits wird bei der Messung am Eingangsport nur die Strahlungsleistung des Prüfobjektes erfaßt, die in den TEM-Mode eingekoppelt wird. Allgemeine Objekte regen aber nicht nur den TEM-Mode, sondern auch höhere Feldmoden an. Andererseits wird durch den äquivalenten Modelldipol eine Richtcharakteristik vorgegeben. Zur Lösung der angesprochenen Probleme soll die Anregung des TEM-Modes und der höheren Feldmoden betrachtet werden. Einerseits ist damit abzuschätzen, welcher Anteil des Leistungstransportes in den höheren Moden geschieht und andererseits, welche Multipoldarstellung für das Prüfobjekt zu wählen ist.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen