Ermittlung der Grenzflächen-Realstruktur mittels Röntgendiffraktometrie (YE 1)

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 1995 bis 2000
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5476519

Keine Zusammenfassung vorhanden

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 296: Wachstumskorrelierte Eigenschaften niederdimensionaler Halbleiterstrukturen
• Mitantragstellende Institution: Humboldt-Universität zu Berlin
• Antragstellende Institution: Technische Universität Berlin
• Teilprojektleiter: Professor Dr. Rolf Köhler