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Streak-Kamera-System mit Pikosekunden-Laser

Fachliche Zuordnung Optik, Quantenoptik und Physik der Atome, Moleküle und Plasmen
Förderung Förderung in 2007
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 53633215
 
Erstellungsjahr 2011

Zusammenfassung der Projektergebnisse

Das Streak-Kamera-System mit ps-Laser wurde in der Arbeitsgruppe Organische Halbleiter (Prof. Brütting) an der Universität Augsburg überwiegend zur Messung der Fluoreszenz- und Phosphoreszenzlebensdauern von organischen Farbstoffen benutzt, die in organischen Leuchtdioden (OLEDs) zum Einsatz kommen. Dabei wurden einerseits Volumenmessungen an reinen Fabstofffilmen sowie verdünnten Systemen durchgeführt, um Lumineszenzquantenausbeuten und damit verbundene konzentrationsabhängige Löschprozesse sowie Energietransferprozesse zwischen unterschiedlichen Materialien zu untersuchen. Andererseits wurden zeitaufgelöste Messungen auch direkt an den Emittermaterialien in OLED-Strukturen durchgeführt. Damit konnten zusätzliche Mikroresonatoreffekte auf die Lebenszeit des angeregten Zustands sowie nichtstrahlende Löschprozesse durch die gleichzeitige Anwesenheit von injizierten Ladungsträgern studiert werden. Die Untersuchungen wurden im Rahmen des DFG-Einzelprojekts „Photophysik von OLEDs“ sowie des BMBF-Verbundprojekts „TOPAS 2012“ durchgeführt.

Projektbezogene Publikationen (Auswahl)

  • Comprehensive efficiency analysis of organic light-emitting devices, J. of Photonics for Energy 1 (2011) 011006
    D.S. Setz, T.D. Schmidt, M. Flämmich, S. Nowy, J. Frischeisen, B.C. Krummacher, T. Dobbertin, K. Heuser, D. Michaelis, N. Danz, W. Brütting, A. Winnacker
  • Oriented phosphorescent emitters boost OLED efficiency, Org. Electron. 12, 1663-1668 (2011)
    M. Flämmich, J. Frischeisen, D.S. Setz, D. Michaelis, B.C. Krummacher, T.D. Schmidt, W. Brütting, N. Danz
  • Strategies for light extraction from surface plasmons in organic light-emitting diodes, J. of Photonics for Energy 1 (2011) 011004
    J. Frischeisen, B.J. Scholz, B.J. Arndt, T.D. Schmidt, R. Gelhaar, C. Adachi, W. Brütting
 
 

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