Scherkraft-Rasterkraftmiskoskop
Final Report Abstract
Das beschaffte Rasterkraftmikroskop (AFM) wurde in den ersten drei Jahren hauptsächlich zur Untersuchung der Größenverteilung von in Mikroreaktoren beziehungsweise Mikrokanälen generierten Metallnanopartikeln (hauptsächlich Au-NP und Au/Ag-Core/Shell-NP) und zur Charakterisierung von organischen Mikrospots für die Anwendung in chemisch sensitiven Mikrochips eingesetzt. Daneben wurden auch Untersuchungen von MWCNT (Kohlenstoffnanoröhren) durchgeführt. Weiterhin diente das AFM zur lokalen Manipulation von Nanopartikeln auf verschiedenen Oberflächen und zur Messung der dafür nötigen Kräfte. Daneben erfolgte der Einsatz zur Entwicklung neuer Strukturierungstechniken. Routinemäßige wurde das Rasterkraftmikroskop zur Messung verschiedener Glasoberflächen und zur Kontrolle von Ätzprozessen eingesetzt. Gegenwärtig wird das AFM zur Charakterisierung von Schichten für organische Solarzellen eingesetzt.
Publications
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"Nanotopographie characterization of spotted micro arrays on polyvinyl alcohol films by high-resolution long-range nanoprofiling" Scanning, 2009, 31, 1, 35 - 48
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