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Röntgen-Photoelektronenspektrometer

Fachliche Zuordnung Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
Förderung Förderung in 2025
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 569336722
 
Dieser Antrag zielt darauf ab, ein Gerät zu erwerben, das XPS-Messungen durchführen kann und entscheidende Lücken in der Charakterisierung von Chemikalien und Materialien an der Universität Bonn schließen wird. Bei dem Gerät handelt es sich um ein eigenständiges System, das Röntgenstrahlen zur Charakterisierung der elektronischen Struktur verschiedener Elemente in einer Probe einsetzt, die molekularer oder fester Natur sein kann. Bei dieser Methode wird eine Röntgenquelle verwendet, um ein Kernelektron aus einem Atom herauszulösen, und das herausgelöste Pho-Toelektron wird mit einem Detektor gemessen. Die Energie der ausgestoßenen Elektronen wird direkt mit dem Element und seiner elektronischen Struktur in Verbindung gebracht. Die Informationen, die durch die XPS-Analyse der elektronischen Struktur jedes Elements in einer Probe gewonnen werden, sind einzigartig und können nicht alternativ mit anderen Instrumenten/Techniken, die an der Universität Bonn zur Verfügung stehen, gewonnen werden. Diese Informationen stammen aus den ersten Nanometern der Probenoberfläche, was für die heterogene Katalyse von entscheidender Bedeutung ist. Im Kornienko-Labor wird das XPS-Spektrometer das Team in die Lage versetzen, die Oberflächenzusammensetzung und elektronische Struktur von Materialien mit ihrer katalytischen Leistung bei der elektrochemischen Aktivierung kleiner Moleküle zu verknüpfen. Auch im Institut für Anorganische Chemie der Universität Bonn wird dieses Instrument von unschätzbarem Wert sein, um Aspekte wie den Oxidationszustand von Molekül- und Festkörperproben zu messen und deren katalytische und lumineszente Eigenschaften zu erklären.
DFG-Verfahren Forschungsgroßgeräte
Großgeräte Röntgen-Photoelektronenspektrometer
Gerätegruppe 1780 Photoelektronenspektrometer (UPS und XPS)
 
 

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