Methoden der Selbstreparatur für Logik-Baugruppen und Verbindungsstrukturen in Nano-Technologien (SELNA)

• Antragsteller: Professor Dr.-Ing. Heinrich Theodor Vierhaus
• Fachliche Zuordnung: Rechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme
• Förderung: Förderung von 2007 bis 2011
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 63403581

• Erstellungsjahr: 2011

Zusammenfassung der Projektergebnisse

Keine Zusammenfassung vorhanden

Projektbezogene Publikationen (Auswahl)

• "Basic Architecture for Logic Self Repair," IOLTS, pp.177-178, 2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2008, ISBN: 978-0- 7695-3264-6
  Tobias Koal, Heinrich T. Vierhaus
  
• „Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik“, Proc. 2. GMM/GI/ITG- Arbeitstagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“, Ingolstadt, September /Oktober 2008, Reihe GMM-Fachberichte No. 57, ISBN 978-3-8007-3119-pp. 57- 64
  T. Koal, D. Scheit, H. T. Vierhaus
  
• „A Concept for Logic Self Repair“, Proc. 12th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), Patras, August 2009, pp. 221-224, IEEE CS Press, 2009, ISBN 978-0-7695-3782-5, pp. 621-624
  T. Koal, D. Scheit, H. T. Vierhaus
  
• „Reliability Estimation Process“, Proc. 12th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), Patras, August 2009, pp. 221-224, IEEE CS Press, 2009, ISBN 978-0-7695-3782-5, pp. 221-224
  T. Koal, D. Scheit, H. T. Vierhaus
  
• “HW / SW Co-Detection of Transient and Permanent Faults with Fast Recovery in Statically Scheduled Data Paths”, Proc. IEEE Design and Test in Europe (DATE) 2010, Dresden, March 2010
  Mario Schölzel
  
• „Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems”, Proc. IEEE DDECS 2010, Vienna, April 2010
  Tobias Koal, Heinrich T. Vierhaus
  
• “Optimal Spare Utilization for Reliability and Mean Lifetime Improvement for Logic Built-in Self Repair“, Proc. 14th IEEE Int. Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2011), Cottbus, April 2011, pp. 219- 224
  T. Koal, H. T. Vierhaus
  
• „Design and Test Technology for Dependable Systems on Chip”, IGI Global Book Company, Hershey, PA, 2011, ISBN 978-1-60960-212-3
  Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich T. Vierhaus