Elektrische Rasterkraftmikroskopie an Nanopartikeln und Nanopartikel-Bauelementen (B14)

• Fachliche Zuordnung: Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
• Förderung: Förderung von 2008 bis 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5483024

Nanopartikel-Bauelemente wie Sensoren oder Transistoren werden meist durch makroskopische Kenngrößen, wie z. B. Strom/Spannungs-Kennlinien, charakterisiert. Mikroskopische Effekte, wie der Kontakt zwischen Elektroden und Partikel, die lokale Potenzialverteilung zwischen Elektroden oder der lokale Stromtransport in Partikel-Netzwerken bleiben verborgen. Ziel dieses Projektes ist eine lokale, elektrische Analyse von Nanopartikel-Bauelementen mittels der Rastersonden- Kelvin-Mikroskopie, um durch quantitativen Zugriff auf Austrittsarbeit und lokale Potenzialverteilung mikroskopische Aussagen über die Bauelement-Funktionalität zu gewinnen.

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 445: Nano-Partikel aus der Gasphase: Entstehung, Struktur, Eigenschaften
• Antragstellende Institution: Universität Duisburg-Essen
• Teilprojektleiter: Professor Dr. Gerd Bacher; Dr.-Ing. Wolfgang Mertin