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Hochauflösendes Analytisches Rasterelektronenmikroskop

Fachliche Zuordnung Werkstofftechnik
Förderung Förderung von 2008 bis 2011
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 67172013
 
„Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen, kombiniert mit leistungsfähiger EDX-EBSD-Analytik, ermöglichen eine umfassende ortsaufgelöste Charakterisierung ermüdungs- und/oder fertigungsbedingter Werkstoffzustände. Die an den beantragenden Lehrstühlen aktuell bearbeiteten und geplanten Forschungsvorhaben beschäftigen sich schwerpunktmäßig mit dem Einfluss unterschiedlichster Werkstoff- und Fertigungsparameter auf die Mikrostruktur und somit auf die mechanischen Eigenschaften und insbesondere die Ermüdungseigenschaften. Die Verfügbarkeit einer kombinierten EDX-EBSD-Analytik erweist sich für diese Fragestellungen als besonders vorteilhaft und substantielle Fortschritte in mikrostrukturorientierten Forschungsvorhaben sind zu erwarten. Die Beschaffung des beantragten Gerätes liefert einen wesentlichen Beitrag zur Sicherstellung der internationalen Wettbewerbsfähigkeit der beantragenden Lehrstühle, des Fachbereichs Maschinenbau und Verfahrenstechnik sowie der gesamten Technischen Universität Kaiserslautern in Forschung und Lehre.Das derzeit am antragstellenden Institut zur Verfügung stehende Rasterelektronenmikroskop ist mit einem EDX-System (Oxford INCA) ausgestattet. Zwar ist das Gerät in der Lage, die geforderten Auflösungen zu realisieren, jedoch ist insbesondere die Auflösung des EDX-Detektors für viele aktuelle Fragestellungen nicht ausreichend. Daneben ist es nicht möglich, das Gerät mit einer EBSD-Anlage auszustatten, da kein ausreichender Strahlstrom erzeugt werde. Das vorhandene Rasterelektronenmikroskop ist bereits elf Jahre alt und erlaubt keine Anbindung an aktuelle Rechnersysteme. Eine Modernisierung des Gerätes hinsichtlich der Rechnerkomponenten ist nicht möglich. Darüber hinaus ist das vorhandene REM extrem stark ausgelastet, da es für aktuell vier Lehrstühle des Fachbereiches zur Verfügung stehen muss."
DFG-Verfahren Forschungsgroßgeräte
Gerätegruppe 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
 
 

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