FT-IR-Mikroskop mit FT-IR-Spektrometer

• Fachliche Zuordnung: Kunst-, Musik-, Theater- und Medienwissenschaften ; Bauwesen und Architektur
• Förderung: Förderung in 2008
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 73110840

„Im Land Brandenburg wird an der FH Potsdam im Studiengang Restaurierung in Kooperation mit dem Brandenburgischen Landesamt für Denkmalpflege und der Stiftung Preußische Schlösser und Gärten Berlin-Brandenburg im Bereich der Konservierung und Restaurierung von Kunst- und Kulturgut überregional geforscht. Für jede einzelne Konservierung bzw. Restaurierung eines Kulturgutes ist es erforderlich, das Objekt auch naturwissenschaftlich zu untersuchen, nur so ist es möglich, ein geeignetes Konzept für die Bearbeitung zu ermitteln. Es besteht dabei stets das Problem, dass der naturwissenschaftlichen Analyse nur sehr kleine Probemengen (μg - mg) zur Verfügung stehen. Die dabei zu untersuchenden Proben setzen sich aus anorganischen und/oder organischen Substanzen (u.a. organische Bindemittel, Pigmente, Trägermaterialien wie Putz, Stein, Metall, ebenso wie Konservierungsstoffe: z.B. Kunststoffe) zusammen. Für diese Materialgruppen ist eine geeignete Messmethode erforderlich. Die Fourier-Transform-Infrarot Spektroskopie (FT-IR-Spektroskopie) hat sich seit vielen Jahren zur qualitativen Identifizierung organischer und anorganischer Materialien bewährt. Die Kombination von FT-IR-Mikroskopie und FT-IR-Spektroskopie ist zur Untersuchung von Kunst- und Kulturgütern besonders gut geeignet, weil damit die Probenmenge, die dem Kunstwerk entnommen werden muss, sehr gering gehalten werden kann. Im Vergleich zu allen anderen Methoden der Materialanalyse im Bereich der Kunsttechnologie sind die großen Vorteile der FT-IR-Mikroskopie die Schnelligkeit, der geringe Arbeitsaufwand und die geringe Probegröße für eine erfolgreiche Analyse.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 1830 Fourier-Transform-IR-Spektrometer
• Antragstellende Institution: Fachhochschule Potsdam
• Leiter: Professor Dr. Steffen Laue