Resonante Röntgenabsorption und -streuung an topologischen Isolatoren basierend auf Halbleiter- und Oxid-Heterostrukturen (C04)

• Fachliche Zuordnung: Experimentelle Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 2015 bis 2019
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 258499086

In diesem Projekt sollen die resonante Röntgenabsorption und -diffraktion dazu genutzt werden, zwei Forschungsbereiche voranzubringen: (i) Mit dieser Messmethode ist es möglich, den Einfluss von magnetischen Verunreinigungen in topologischen Isolatoren basierend auf HgTe, ¿-Sn und (Bi,Sb)2(Se,Te)3 tiefenaufgelöst zu analysieren. (ii) Wir werden uns intensiv mit der Realisierung und strukturellen Charakterisierung topologischer Isolatoren aus korrelierten Übegangsmetalloxi-den (z.B. Titanat- und Nickelat-Heterostrukturen bei geeigneter kristallographischer Orientierung) beschäftigen.

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 1170: Topologische und korrelierte Elektronik in Ober- und Grenzflächen ("ToCoTronics")
• Antragstellende Institution: Julius-Maximilians-Universität Würzburg
• Teilprojektleiter: Professor Dr. Vladimir Hinkov; Dr. Volodymyr Zabolotnyy