Design und Integration des Testmoduls für die mikrofluidische Large-Scale Integration (mLSI)

• Antragsteller: Dr.-Ing. Tsun-Ming Tseng
• Fachliche Zuordnung: Rechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme
• Förderung: Förderung seit 2021
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 456006534

Die mikrofluidische large-scale Integration (mLSI) ist eine vielversprechende Lab-on-a-Chip-Plattform für Hochdurchsatz-Bioanwendungen. Steuerkanäle auf mLSI-Chips sind aufgrund der hohen Integrationsskala und der geringen Strukturgröße fehleranfällig. Gegenwärtige Methoden zum Testen von Steuerkanaldefekten sind durch die Fließschichtstruktur von mLSI-Chips begrenzt und können deshalb vollständige Fehlerabdeckung nicht garantieren. In diesem Projekt schlagen wir eine neue Testmethode vor, um eine vollständige Fehlerabdeckung zu bieten. Die Grundidee besteht darin, einen Testmodul in den mLSI-chip zu integrieren. Das Testmodul wird an die originale Strömungsstruktur angeschlossen und ist nicht durch die originale Struktur begrenzt. Mit dem Testmodul werden Tests direkt durchgeführt und die Testergebnisse vor Ort gesammelt werden. Für die Durchführung der Tests sind weder professionelle Software noch externe Drucksensoren erforderlich. Wir werden effiziente Algorithmen zur Testmustergenerierung und zur Layoutsynthese entwickeln, um verschiedene Arten von Kanaldefekten zu testen.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen