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Simulationsbasierter Testentwurf für gemischt analog-digitale Systeme

Fachliche Zuordnung Rechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme
Förderung Förderung von 1997 bis 2004
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5372527
 
In diesem Teilprojekt soll das Problem des Testentwurfs für gemischt analog-digitale Systeme bearbeitet werden. Insbesondere sollen für eingebettete analoge Komponenten simulationsbasierte, statistische bzw. deterministische Testentwurfsverfahren mit zeitlich begrenzten Umschaltvorgängen als Testsignale entwickelt werden.
DFG-Verfahren Schwerpunktprogramme
 
 

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