Aperturlose Terahertz-(THz)-Nahfeldmikroskopie zur Steigerung der Ortsauflösung bildgebender Verfahren im THz-Frequenzbereich

• Antragsteller: Professor Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar
• Fachliche Zuordnung: Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
• Förderung: Förderung von 2005 bis 2011
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5447084

Die THz-Spektroskopie hat sich in den letzten Jahren zu einem wichtigen Forschungsgebiet mit einer Vielzahl interessanter Anwendungen herausgebildet. Hierbei gewinnen vor allem bildgebende Verfahren zur ortsaufgelösten Erfassung spezifischer THz-Eigenschaften immer größere Bedeutung. Ziel dieses Projektes ist der Aufbau und die Optimierung eines bildgebenden Messsystems im THz-Frequenzbereich mit bisher unerreichter Ortsauflösung, ein THz-Nahfeldmikroskop. Dies soll durch die Verbindung von zeitaufgelöster THz-Spektroskopie und Rasternahfeldmikroskopie erreicht werden und spektral breitbandige Untersuchungen im THz-Frequenzbereich mit einer Ortsauflösung deutlich unterhalb des Beugungslimits ermöglichen. Des Weiteren soll neben breitbandiger gepulster auch nicht-gepulste, d.h. cw-THz-Strahlung, zum Einsatz kommen und grundsätzliche Unterschiede beider Methoden für die THz-Nahfeldmikroskopie erarbeitet werden. Ziel ist dabei eine Auflösung im Nanometerbereich . Es sollen Untersuchungen an wissenschaftlich relevanten Probensystemen wie Halbleiternanostrukturen, Biomolekülen und biomolekular funktionalisierten Oberflächen durchgeführt werden.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen
• Großgeräte: AFM-System
• Gerätegruppe: 5050 Mikroskopphotometer
• Beteiligte Person: Professor Dr. Heinrich Kurz (†)