SFB 196:  Physik und Chemie optischer Schichten

• Fachliche Zuordnung: Physik
• Förderung: Förderung von 1993 bis 2002
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5472481

Zentrales Thema sind physikalische und chemische Untersuchungen zu Struktur-Eigenschafts-Relationen für dünne strukturierte Schichten im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen. Basismaterialien sind Siliziumkarbid-Polytypen und nichtlinear-optische Polymere, in denen durch Erzeugung von Gruppe-IV-Nanokristalliten bzw. durch Strukturierung/Dotierung Quantisierung von Elektronen oder Lokalisation von Licht erzielt werden soll. Die wissenschaftlichen Untersuchungen erstrecken sich von der Materialsynthese und Schichtabscheidung über die Charakterisierung mittels vielfältiger Methoden bis hin zur Erforschung und Beschreibung physikalisch-chemischer Effekte in diesen Systemen. Im Mittelpunkt stehen dabei die optischen und nichtlinear-optischen Eigenschaften.

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche

Abgeschlossene Projekte

• A1 - Zusammenhang von Schwingungsspektren und Struktur sowie optischen Eigenschaften dünner Schichten (Teilprojektleiterinnen / Teilprojektleiter Dunken, Helga ;  Hobert, Hartmut )
• A3 - Epitaxie und Analyse niedrigdimensionaler Strukturen aus Gruppe IV-Halbleitern (Teilprojektleiter Richter, Wolfgang ;  Schröter, Bernd )
• A4 - Strukturierung, Kristallisation und Modifizierung physikalischer Eigenschaften von Siliziumkarbid duch Ionenbestrahlung und Nachfolgeprozesse (Teilprojektleiter Wesch, Werner )
• A5 - Thermomechanische Messmethoden als Beitrag zur Strukturaufklärung von SiC (Teilprojektleiter Riesenberg, Rainer )
• A8 - Geometrie und Eigenschaften von nanostrukturierten Gruppe-IV-Halbleitern (Teilprojektleiter Bechstedt, Friedhelm )
• A9 - Präparation von Dünnschichten aus kristallinem SiGeC mittels lasergestützter Methoden (Teilprojektleiter Falk, Fritz ;  Stafast, Herbert )
• A10 - Charakterisierung von Fremdatomen und Quantenstrukturen in Gruppe-IV-Halbleiterschichten (Teilprojektleiter Witthuhn, Wolfgang )
• A11 - Röntgendiffraktometrische Untersuchungen von niedrigdimensionalen Strukturen (Teilprojektleiter Goetz, Konrad ;  Kräusslich, Jürgen )
• A12 - Bestimmung der Morphologie, Struktur und Spannungsfelder von Nanostrukturen (Teilprojektleiterinnen / Teilprojektleiter Glatzel, Uwe ;  Kaiser, Ute )
• A13 - Herstellung vergrabener Gruppe IV-Nanokristalle in SiC durch Ionenstrahlprozesse (Teilprojektleiter Wesch, Werner )
• B1 - Lokalisierung von Licht in diskreten und sissipativen nichtlinaren Systemen (Teilprojektleiter Lederer, Falk )
• B2 - Synthese von neuen NLO-Polymeren (Teilprojektleiter Hörhold, Hans-Heinrich )
• B3 - Synthese von strukturmodifizierten amorphen optischen Schichten mit nichtlinearen optischen Eigenschaften (Teilprojektleiter Bürger, Herbert )
• B4 - Photochemie und Photophysik von Farbstoffen in Polymer- und Langmuir-Blodgett-Schichten mit nichtlinear optischen Eigenschaften (Teilprojektleiter Grummt, Ulrich-Walter )
• B5 - Experimente zur räumlichen Lokalisierung von Licht in nichtlinear-optischen Systemen (Teilprojektleiter Bräuer, Andreas )
• B7 - Theorie der linearen und nichtlinearen optischen Konstanten von Wide-Band-Gap-Halbleitern und -Strukturen (Teilprojektleiter Bechstedt, Friedhelm )
• B8 - Dispersion und Zeitabhängigkeit der optischen Nichtlinearität dritter Ordnung (Teilprojektleiterin Rentsch, Sabine )
• B9 - Nichtlinear optische Eigenschaften von Nanokristallen in SiC und von Polymeren (Teilprojektleiter Sauerbrey, Roland )
• B10 - Synthese und Photophysik von Polyheteroarylene und ihrer Metallchelate (Teilprojektleiterinnen / Teilprojektleiter Grummt, Ulrich-Walter ;  Klemm, Elisabeth )
• B12 - Brechzahlmodifikation in optisch transparenten Materialien durch Strukturänderungen bei Bestrahlung mit ultrakurzen Lichtpulsen (Teilprojektleiter Tünnermann, Andreas )
• C1 - Röntgenographische Strukturuntersuchungen von SiC-Polytypen und -Schichtsystemen (Teilprojektleiter Goetz, Konrad )
• C2 - Mikroanalytische und mikroskopische Charakterisierung dünner Schichten (Teilprojektleiter Wendt, Michael )
• C3 - Streulichtspektroskopie und Rasterkraftmikroskopie zur Mikrostrukturanalyse optischer Schichten (Teilprojektleiterin Duparré, Angela )
• D1 - Verwaltung des SFB (Teilprojektleiter Bechstedt, Friedhelm )

• Antragstellende Institution: Friedrich-Schiller-Universität Jena
• Sprecher: Professor Dr. Friedhelm Bechstedt