Verständnis und Steuerung der Abscheidung von Halbleiterfilmen mittels elektrochemischer Ansätze (C04)

• Fachliche Zuordnung: Festkörper- und Oberflächenchemie, Materialsynthese ; Physikalische Chemie von Festkörpern und Oberflächen, Materialcharakterisierung
• Förderung: Förderung seit 2025
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 538767711

Projekt C4 (Ng) verwendet elektrochemische Techniken in einer flüssigen Umgebung, um das Wachstum und die Eigenschaften von Filmen und Strukturen zu untersuchen. Die Rasterkraftmikroskopie (AFM-SECM) wird Einblicke in das Wachstum und die Defektbildung von 2D-Halbleitern liefern. Wir beginnen mit g/sALD-TMDCs (C1) und exfolierten 2D-TMDC-Schichten (S4), gefolgt von organischen Molekülen und funktionalisierten Schichten (C2, C3, F5). Wir untersuchen den Einfluss von Defekten und Strukturmerkmalen auf (photo)elektrochemische Reaktionen und (photo)degradation der Halbleiterschichten (ergänzend zu C5, S1) und testen Modelle für Filmwachstum und Defektbildung (C5, C6, S2-S5, F1, M1-M4).

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 1719: ChemPrint -- Gedruckte Halbleiter der nächsten Generation: Ingenieurskunst auf atomarer Ebene mittels molekularer Oberflächenchemie
• Antragstellende Institution: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
• Teilprojektleiterin: Professorin Dr. Siow Woon Ng, Ph.D., seit 7/2025