Atomare Einblicke in die Morphologie und elektronische Struktur von 2D-Halbleitern mithilfe von Rasterkraftmikroskopie (S01)

• Fachliche Zuordnung: Physikalische Chemie von Festkörpern und Oberflächen, Materialcharakterisierung
• Förderung: Förderung seit 2025
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 538767711

Projekt S1 (Maier) nutzt Rasterkraftmikroskopie und -spektroskopie, um die Struktur und elektronische Struktur von ultradünnen Halbleiterkristallen mit atomarer Auflösung zu untersuchen. STM und AFM werden Einblicke in die Identität und Struktur von Nukleationsstellen auf den Substraten liefern, sowie die Organisation des Feststoffs um die Nukleationspunkte herum und das weitere Wachstum detailliert beschreiben (mit C1, C2). STS wird Bandlücken und Punktdefekte untersuchen. Mit komplementären Methoden (C4, C5, S4, S5) wird S1 ein vollständiges Bild in höchster Auflösung über den Einfluss des Keims auf die Eigenschaften liefern (mit M1, M2, M4) und Ansätze für die Chemie der Abscheidung vorschlagen (C2, C3).

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 1719: ChemPrint -- Gedruckte Halbleiter der nächsten Generation: Ingenieurskunst auf atomarer Ebene mittels molekularer Oberflächenchemie
• Antragstellende Institution: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
• Teilprojektleiterin: Professorin Dr. Sabine Maier, seit 7/2025