Fünfkreis-Röntgendiffraktometer (Erneuerung)

• Fachliche Zuordnung: Produktionstechnik
• Förderung: Förderung seit 2026
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 579016815

Die einzigartige Bauweise des Fünfkreis Diffraktometers Seifert XRD 3003 ETA erlaubt zusätzlich zur Analyse von qualitativen und quantitativen Phasenanteilen, Textur und Mikrostrukturen auch die zerstörungsfreie Bestimmung von tiefenaufgelösten Eigenspannungszuständen im oberflächennahen Bereich. Durch seine individuell beweglichen acht Achsen (drei Achsen am Probentisch, fünf Achsen am Goniometer) kann die Eindringtiefe der Röntgenstrahlung geometrisch von der maximalen Eindringtiefe der verwendeten Strahlung gezielt sowie stufenlos verringert werden. Dies ermöglicht die lückenlose Analyse von Eigenspannungszuständen bis in eine materialspezifische Tiefe (maximale Eindringtiefe). So können reale Proben mit wechselnden Charakteristika wie chemische oder Eigenspannungsgradienten bestmöglich analysiert und ihr Verhalten beschrieben werden. Aktuelle Anwendungsbeispiele sind die Analyse von komplizierten, mehrlagigen Schichtsystem mit einem chemischen oder Eigenspannungsgradienten, die Analyse additiv gefertigter, poröser Proben mit einem chemischen Gradienten oder die Entstehung und der Einfluss von Oxidpassivierungschichten auf die Eigenspannungszustände. Das Seifert XRD 3003 ETA am Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen der Leibniz Universität Hannover ist eines von drei Diffraktometern dieses speziellen Typs weltweit. Die verbaute elektronische Steuerung der verschiedenen Achsen ist nach über zwanzig Jahren (Baujahr 2003) veraltet und störanfällig. Die erforderlichen elektronischen Schaltpläne für eine Reparatur sind nicht mehr zugänglich, die notwendigen Ersatzteile ausschließlich gebraucht in begrenzter Stückzahl und Garantie beschaffbar. Für den Erhalt dieser einzigartigen Messeinrichtung, und um sie über Jahre zukunftsfähig zu machen, ist eine Generalüberholung der elektronischen Steuerung zwingend erforderlich.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Fünfkreis-Röntgendiffraktometer
• Gerätegruppe: 4010 Einkristall-Diffraktometer
• Antragstellende Institution: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
• Leiterin: Dr. Hilke Petersen