Professor Dr. Wolfgang Osten
Adresse
Universität Stuttgart
Institut für Technische Optik (ITO)
Pfaffenwaldring 9
70569 Stuttgart
Projekte
Als Antragsteller
abgeschlossene Projekte
Untersuchungen zur Anwendung von Wavelets bei der Mustererkennung in holografischen Interferogrammen
(Sachbeihilfen)
Modellgestützte Erkennung von Materialfehlern mittels optischer Sichtprüfung durch Bildsynthese und aktive Belastungsänderung
(Schwerpunktprogramme)
Beiträge zur Erhöhung der Genauigkeit kohärent-optischer Messungen unter Berücksichtigung von Phasensingularitäten
(Sachbeihilfen)
Tomografische Mikrointerferometrie unter Verwendung von Flüssigkristallen
(Sachbeihilfen)
Aktive Mikrooptik zur ortsaufgelösten Steuerung des Polarisationszustandes (AMiPola)
(Schwerpunktprogramme)
Neue multiskalige Mess-, Steuer- und Prüfstrategien für die Prüfung von Mikro- und Nanosystemen in Produktion
(Schwerpunktprogramme)
Neue Kalibrierstrategien für die fertigungsnahe Ermittlung mechanischer Eigenschaften von Mikrosystemen (MikroKal)
(Schwerpunktprogramme)
Untersuchungen zur Ansteuerung pixelierter räumlicher Lichtmodulatoren für die Rekonstruktion digitaler Hologramme
(Sachbeihilfen)
Inverse-source and inverse-diffraction problems in photonics
(Sachbeihilfen)
Label-frei 3D- Digitale Holographische Mikroskopie bei Verwendung von 2 axialentgegengesetzten Beobachtungsrichtungen und Dunkelfeldbeleuchtung
(Sachbeihilfen)
Adaptierbare plenoptische Kameras: Design, Herstellung, Integration
(Schwerpunktprogramme)
Digitale Holografie mit adaptiver Wellenfrontformung zur hochauflösenden Untersuchung von 3D-Mikrostrukturen im tiefen UV-Bereich
(Sachbeihilfen)
Design und Herstellung von Nahfeld-Fernfeld-Transformatoren mittels Sub-100 nm Zwei-Photonen-Polymerisation
(Schwerpunktprogramme)
Benchmarks für Phasen-Rückgewinnungs-Methoden
(Sachbeihilfen)
Chromatisch-konfokale Spektral-Interferometrie zur dynamischen Profilerfassung
(Sachbeihilfen)
Remote Laboratory for Optical Micro Metrology
(Sachbeihilfen)
Systemanalyse und Methoden zum Reglerentwurf für verformbare Sekundärspiegel in der Adaptiven Optik
(Sachbeihilfen)
Nano-Positionierung, -Vermessung und -Strukturierung auf großen Flächen und Volumina für Design, Herstellung und Charakterisierung von neuartigen optischen Komponenten und Systemen.
(Großgeräteinitiative)
Ein selbst-kalibrierendes interferometrisches Verfahren zur Vermessung von Asphären und Freiformflächen
(Sachbeihilfen)
Hochaufgelöste Single-Shot-Vermessung von semitransparenten Schichten mittels Chromatisch-Konfokaler Kohärenz-Tomographie (CCCT)
(Sachbeihilfen)
Design, Herstellung und Test einer kaskadierten plasmonischen Superlinse
(Sachbeihilfen)
Die materielle Veränderung von Kunst durch Transporte: Untersuchungen zu Detektion und Unterscheidung transport- und alterungsbedingter Schäden an Kunstwerken
(Sachbeihilfen)
Ermittlung von Eigenspannungen in beschichteten Oberflächen
(Sachbeihilfen)
Hochauflösende Mikroskopie unter Verwendung einer Streuscheibe
(Sachbeihilfen)
Schnelle Weißlicht-Müller-Matrix-Scatterometrie zur Charakterisierung von Nanostrukturen mit großem Parameterraum
(Sachbeihilfen)
Dynamische Referenzierung von Koordinatenmess- und Bearbeitungsmaschinen
(Sachbeihilfen)
Rigorose Simulation von Speckle-Feldern bei großflächigen rauen Oberflächen mit schnellen Algorithmen auf der Basis von Randelementmethoden höherer Ordnung
(Sachbeihilfen)
Als Leiter
abgeschlossene Projekte
Reaktive-Ionen-Ätzanlage mit ICP-Quelle
(Forschungsgroßgeräte)
Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (REM/FIB Dualbeam)
(Forschungsgroßgeräte)
Als beteiligter Wissenschaftler
abgeschlossene Projekte
GSC 262: Graduiertenschule für advanced Manufacturing Engineering (GSaME)
(Graduiertenschulen)
Als Beteiligte Person
abgeschlossene Projekte
Reduktion von Meßdaten aus optischen und taktilen Gestaltmessungen zur funktionsorientierten Auswertung von Standardformelementen
(Sachbeihilfen)
Als Kooperationspartner
abgeschlossene Projekte
Referenzlose Phasenholographie zur Rekonstruktion vollständiger optischer Wellenfelder in Messtechnik und Bildwiedergabe II (RELPH II)
(Sachbeihilfen)