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Project Details

Person

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Professor Dr. Wolfgang Osten

Address Universität Stuttgart
Institut für Technische Optik (ITO)
Pfaffenwaldring 9
70569 Stuttgart

Projects

As Applicant
- Completed projects
  - Untersuchungen zur Anwendung von Wavelets bei der Mustererkennung in holografischen Interferogrammen (Research Grants)
  - Modellgestützte Erkennung von Materialfehlern mittels optischer Sichtprüfung durch Bildsynthese und aktive Belastungsänderung (Priority Programmes)
  - Beiträge zur Erhöhung der Genauigkeit kohärent-optischer Messungen unter Berücksichtigung von Phasensingularitäten (Research Grants)
  - Tomografische Mikrointerferometrie unter Verwendung von Flüssigkristallen (Research Grants)
  - Aktive Mikrooptik zur ortsaufgelösten Steuerung des Polarisationszustandes (AMiPola) (Priority Programmes)
  - Neue multiskalige Mess-, Steuer- und Prüfstrategien für die Prüfung von Mikro- und Nanosystemen in Produktion (Priority Programmes)
  - Neue Kalibrierstrategien für die fertigungsnahe Ermittlung mechanischer Eigenschaften von Mikrosystemen (MikroKal) (Priority Programmes)
  - Untersuchungen zur Ansteuerung pixelierter räumlicher Lichtmodulatoren für die Rekonstruktion digitaler Hologramme (Research Grants)
  - Inverse-source and inverse-diffraction problems in photonics (Research Grants)
  - Label-free high resolution 3D microscopy using opposed-view dark-field digital holography (Research Grants)
  - Adaptierbare plenoptische Kameras: Design, Herstellung, Integration (Priority Programmes)
  - Digitale Holografie mit adaptiver Wellenfrontformung zur hochauflösenden Untersuchung von 3D-Mikrostrukturen im tiefen UV-Bereich (Research Grants)
  - Design und Herstellung von Nahfeld-Fernfeld-Transformatoren mittels Sub-100 nm Zwei-Photonen-Polymerisation (Priority Programmes)
  - Benchmarks for Phase Retrieval Methods (Research Grants)
  - Chromatic-confocal spectral interferometry for dynamic surface profiling (Research Grants)
  - Remote Laboratory for Optical Micro Metrology (Research Grants)
  - Systemanalyse und Methoden zum Reglerentwurf für verformbare Sekundärspiegel in der Adaptiven Optik (Research Grants)
  - Nanopositioning, -measuring and -patterning on extended surfaces and volumes for characterization, design and fabrication of advanced optical components and systems. (Major Instrumentation Initiatives)
  - A self-calibrating interferometric method for asphere and freeform testing (Research Grants)
  - High-resolution single-shot measurement of semi-transparent films by Chromatic Confocal Coherence Tomography (CCCT) (Research Grants)
  - Design, fabrication and test of a cascaded plamonic superlens (Research Grants)
  - The change of the materiality of art through transports: studies on detection and discrimination of transport- and age-related damages on art works (Research Grants)
  - Residual stress analysis of ceramic coatings (Research Grants)
  - High resolution microscopy using a scattering layer (Research Grants)
  - Characterization of nanostructures with large parameter spaces by fast white light Mueller matrix scatterometry (Research Grants)
  - Dynamical referencing of coordinate measurement machines and machine tools (Research Grants)
  - Rigorous simulation of speckle fields caused by large area rough surfaces using fast algorithms based on higher order boundary element methods (Research Grants)
As Leader
- Completed projects
  - Reaktive-Ionen-Ätzanlage mit ICP-Quelle (Major Research Instrumentation)
  - Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (REM/FIB Dualbeam) (Major Research Instrumentation)
As Participating Researcher
- Completed projects
  - GSC 262: Graduate School of Excellence advanced Manufacturing Engineering (GSaME) (Graduate Schools)
As Participating Person
- Completed projects
  - Reduktion von Meßdaten aus optischen und taktilen Gestaltmessungen zur funktionsorientierten Auswertung von Standardformelementen (Research Grants)
As Cooperation Partner
- Completed projects
  - Referenceless phase holography for reconstruction of complete optical wave fields for metrology and displays II (RELPH II) (Research Grants)

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