SPP 735:  Automatische Sichtprüfung technischer Objekte

• Fachliche Zuordnung: Maschinenbau und Produktionstechnik
• Förderung: Förderung von 1995 bis 2001
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5466234

Das wissenschaftliche Programm zielt auf die Erarbeitung einer Systematik von Verfahren und Lösungen bei technischen Sichtprüfungsaufgaben, die den Ingenieuraufwand für die einzelne Anwendung drastisch vermindern und möglichst universell anwendbar sind. Dabei ist das Gesamtsystem einer Sichtprüfung einzubeziehen, das aus dem zu überwachenden Fertigungsprozess, der Optik mit Beleuchtung und aus der Verarbeitung einschließlich Signalvorverarbeitung,Merkmalsextraktion und Klassifikation besteht. Der Arbeitsschwerpunkt liegt insbesondere auf Systemen, die Tiefeninformationen einbeziehen, eine parallele optische Abtastung nutzen, modellgestützte Verfahren für den Zusammenhang zwischen Prozess- und Prüfmerkmalen anwenden, adaptives und lernendes Verhalten zeigen sowie Echtzeitbedingungen bei hohen Prüffrequenzen und bewegten Objekten erfüllen.

• DFG-Verfahren: Schwerpunktprogramme

Projekte

• Adaptive Formvermessung mit strukturierter Beleuchtung für technische Oberflächen in beliebiger Lage (Antragsteller Kowarschik, Richard )
• Adaptive Industrieroboterprogrammierung auf Basis einer automatischen, optischen Sichtprüfung (Antragsteller Kreis, Willibald )
• Adaptive Industrieroboterprogrammierung auf Basis einer automatischen, optischen Sichtprüfung (Antragsteller Tölg, Sebastian )
• Adaptive Sichtprüfung mit neuen Bildverarbeitungsstrategien (Antragsteller Bley, Helmut )
• Adaptive Sichtprüfung mit neuen Bildverarbeitungsstrategien (Antragsteller Janocha, Hartmut )
• Adaptives Formmeßsystem mit Mikro-Spiegel-Projektion für technische Körper in kleineren und mittleren Volumina (Antragsteller Kowarschik, Richard )
• Adaptives Verfahren zur Bestimmung der Streifenphase (Antragsteller Küchel, Michael )
• Automatische Sichtprüfung mit synthetischen Hologrammen (Antragsteller Thiel, Jürgen )
• Automatische Sichtprüfung mit synthetischen Hologrammen (Antragsteller Pfeifer, Tilo )
• Automatische Sichtprüfung technischer Objekte unter Einbeziehung von 3D-Information (Antragsteller Häusler, Gerd )
• Beiträge zur Automatisierung der Verformungsmessung an komplex strukturierten Oberflächen mit kohärent-optischen Meßverfahren (Antragsteller Hinsch, Klaus )
• Bestimmung photometrischer Invarianten mittels Analyse des Polarisationszustandes von reflektiertem Licht (Antragsteller Burkhardt, Hans )
• Defekterkennung und Formvermessung mittels neuer Zeitfrequenz-Speckle-Technik (Antragsteller Tiziani, Hans J. )
• Demonstrator für die parallele optisch inkohärente Laufzeitmessung mit 3D-ortsauflösenden Photomischdetektoren (PMD) für die Integrierte 2D/3D-Geometrieprüfung und Szenenanalyse (Antragsteller Schwarte, Rudolf )
• Einsatz der evolutionären Programmierung zur automatischen Algorithmusfindung in der automatischen Sichtprüfung technischer Objekte (Antragsteller Nickolay, Bertram )
• Einsatz digitaler Mikrospiegel in der manuellen und automatisierten Sichtprüfung (Antragsteller Tiziani, Hans J. )
• Einsatz von wissensbasierten Verfahren zur Adaption eines realzeitfähigen Sichtprüfsystems an neue Aufgabenstellungen (Antragsteller Liedtke, Claus-Eberhard )
• Entwicklung einer Strategie zur automatisierten Optimierung von Grauwertbildern in der technischen Sichtprüfung (Antragsteller Pfeifer, Tilo )
• Entwicklung eines Sensors für die 3D-Inspektion technischer Oberflächen mit Streulichtanalyse - exemplarisch für gehonte Oberflächen (Antragsteller Truckenbrodt, Horst )
• Erweiterung eines neuentwickelten Laser-Radar-Systems auf ein faseroptisches parallel arbeitendes Mehrkanalsystem (Antragsteller Stojanoff, Christo G. )
• Gesamtkonzept für eine flexible und adaptive Automatisierung der Bewertung technischer Oberflächen (Antragsteller Melchior, Klaus )
• Implementierung einer volumenholographischen Datenbank in ein kohärent-optisches Sichtprüfungssystem auf der Basis photorefraktiver Neuigkeitsfilterung (Antragstellerin Denz, Cornelia )
• Informationstechnische Rückführung von Prüfergebnissen zur Adaption von Prüf- und Fertigungsprozessen (Antragsteller Rembold, Ulrich )
• Inspektionssystem zur Defektanalyse und -topometrie mittels diffraktiver konfokaler Mikroskopie (Antragsteller Tiziani, Hans J. )
• Integrierte 2D/3D-Geometrieprüfung und Szenenanalyse (Antragsteller Loffeld, Otmar )
• Invariante Textursegmentierung mit Mehrkanalfilterung (Antragsteller Hosticka, Ph.D., Bedrich )
• Konturvermessung durch Selbstüberlagerung (Antragsteller Höfler, Heinrich )
• Lage-, rotations- und skaleninvariante Texturerkennung mit reduziertem Bedieneraufwand (Antragsteller Hosticka, Ph.D., Bedrich )
• Lernfähige Defektklassifikation mittels Streulichtsensoren (Antragsteller Rothe, Hendrik )
• Methoden zur adaptiven Extraktion invarianter Merkmale aus Grauwertbildern und deren Anwendung in der Sichtprüfung (Antragsteller Burkhardt, Hans )
• Modellgestützte Erkennung von Materialfehlern mittels optischer Sichtprüfung durch Bildsynthese und aktive Belastungsänderung (Antragsteller Osten, Wolfgang )
• Modellgestützte Erkennung von Materialfehlern mittels optischer Sichtprüfung durch Bildsynthese und aktive Belastungsänderung (Antragsteller Paulus, Dietrich )
• Neuartige Methoden der automatischen Sichtprüfung räumlicher Objekte unter Berücksichtigung von Tiefeninformationen (Antragsteller Linß, Gerhard )
• Neue Strategien für die automatische Sichtprüfung bei kontinuierlich laufenden Fertigungsprozessen (Antragsteller Paul, Detlef )
• Optische Demodulationstechniken zur Entfernungsmessung und Erzeugung dreidimensionaler Bilder durch Phasenmessung (Antragsteller Müller, René )
• Prüfung der Mikrotopografie und Defekterkennung an rauhen und strukturierten technischen Oberflächen mittels Streulichtanalyse (Antragsteller Truckenbrodt, Horst )
• Quantitative Schleifmodusbeurteilung an Präzisionskeramik durch Planarflächenbewertung optischer 3D-Geometriestrukturen (Antragsteller Dietzsch, Michael )
• Robustes, bildgebendes, absolut messendes Interferometer (BAMI) als 3D-Sensor mit großer Höhenauflösung und Meßdistanz und hoher Datenrate (Antragsteller Leuchs, Gerd )
• Robustes, bildgebendes, absolut messendes Interferometer (BAMI) als 3D-Sensor mit großer Höhenauflösung und Meßdistanz und hoher Datenrate (Antragsteller Telle, Harald Roland )
• Sichtprüfung mit Aktiver Bildverarbeitung (Antragsteller Pandit, Madhukar )
• Sichtprüfung mit aktiver Bildverarbeitung (Antragsteller Pandit, Madhukar )
• Speckle Technik für die Topographiemessung bei der automatischen Sichtprüfung (Antragsteller Tiziani, Hans J. )
• Untersuchung von Methoden zur Formprüfung bei ausgedehnten Objekten mittels adaptiver dreidimensionaler Formerfassung (Antragsteller Jüptner, Werner )
• Visualisierung von Formfehlern und Defekten an asphärischen Objekten (Antragsteller Tiziani, Hans J. )
• Visuelle Echtzeitvermessung von räumlichen Deformationsprozessen mit komplex codierter Szenenbeleuchtung (einschl. spektraler Codierung) (Antragsteller Stanke, Gerd )
• Zerstörungsfreie Prüfung der Textur spanend bearbeiteter Oberflächen anhand von 2D- bzw. 2½ D-Daten der Oberfläche (Antragsteller Mesch, Franz )

• Sprecher: Professor Dr.-Ing. Franz Mesch